Neil: 4月 2013

一. 測試目的

為了防止人體受到傷害, 單體內如有如下不良 : 螺絲鬆動, 未鎖, 零件腳裂錫, 未焊, 冷焊以及零件腳沒有插入孔內, 變壓器及零件絕緣度不佳或絕緣間隙距離不夠, 螺絲或其它異物掉落其中, FUNCTION測試無法偵測到異常之狀態, 因而, 從保護產品質量和產品的安全規則要求的角度出發, 必須要能檢測出這些不良, 靜態時, 單體內上述不良, 測試設備難找出, 只有將單體放置, 於振動系統中, 上述不良才可通過儀器設備測出來.

二. 測試原理

1. HI-POT TEST<高壓絕緣測試>: 利用高壓加於某一有絕緣程度的物體兩端, 通過漏電流的大小來判知物體之間絕緣性是否達到其絕緣的規格之要求, 在此, 我們是把單體的NEVTRAL與LINE短路接於高壓HV端, 輸出端與地線短路接向RETURN端, 加入高壓, 量測漏電流之大小, 來判定輸入端與輸出端, 以及輸入端對接地端絕緣度是否符合安全規格之要求,

2. GROUND CONTINVITY(接地測試)：對AC輸入端的GND及待測物的外殼灌入25A的電流,測得地線與外殼不能完全接觸,這樣測量得阻值會大于0.1Ω.只有通過GROUND CONTINUITY 測試才符合安規要求,

3. ARCING TEST(電弧測試)：當高壓的兩端靠很近時,會有尖端放電現象產生,此一現象經長時間的發生將可能對產品產生很大的傷害,較常見的現象有,當要元件兩端加高壓時,元件腳有一個未焊住,但與焊點有接觸,在振動時,偶爾脫開很小幅度,從而產生尖端放電或有些元件絕緣層有少許的刮傷,

ARCING定義：ARC為一物理現象,通常是指兩端點之間,因距離不夠或介質存在,

而在通電時產生的一個跳火現象,此跳火現象通常為非連續性的,

ARCING偵測的目的：ARC的產生,並不會造成產品立即故障或對人體傷害的問題,但它會隨使用時的的增長,而造成兩端點間的絕緣日益破壞,進而造成機器的故障或對人體的危害,例如”SPS內的PCB的螺絲鎖緊,可能會因工作一段時間后,中間介質阻抗改變,造成浮動電位,進一步破壞PCB內部元件,或因ARC的產生,影響SPS的正常工作.因此ARC偵測的目的在防患未然,也可說是產品可靠度試驗,

ARC偵試線路原理：在ARC的定義列ARC為非連續性的,且約為1KHZ以上的PLUSE OR SPIKE 的高頻信號,因此ARC偵測線路原理如下：

從被測物電流訊號經過兩回路,一為20—PASS FILTER,20—PASS FIELTER

是將電流信號轉換成RMS值,以便量測與判定,HI—PASS FILTER則是當被測物電

流信號有ARC(高頻信號)產生時,將低頻濾掉,只留高頻信號,並經過量測與判別,以上為ARC偵測線路原理.

ARC功能偵測計算：ARC的產生與兩端點間的電壓與距離有關,因此,ARC的產生

通常在高壓時產生,也就是在波峰產生,並且ARC的高頻訊號也是載在波峰上故計算

與量測方式都是以MHP：

例(一)：

測試電壓AC1250VAC時：

VP=1250*√2=1768V,以電阻500KΩ做介質

GAP=兩端點距離調整至ARC剛好產生,約0.5MM左右

因此,ARC電流為I=V/R=1768/1500K=3.5MAP

從上述來看,可歐姆定律來計算,但此為理論值,故我們必須考慮各種誤差的可能,如

GAP大小,電阻含性等因素.

ARC等級說明:

9等級(0.0027A)

8等級(0.0055A)

7等級(0.0077A)

6等級(0.0100A)

5等級(0.0120A)

4等級(0.0140A)

3等級(0.0160A)

2等級(0.0180A)

1等級(0.0200A)

三測試設備：

1. AC WITHSTANDING VOLTAGE TESTER(交流抗壓測試器)

2. AC 20W RESISTANCE TESTER(交流低電阻測試儀)

3. 振動機台.

四.測試項目

1.HI-POT TEST (高壓測試)

2.ARCING TEST (高弧測試)

4. GROUND CONTINUITY TEST(接地測試)

5. INSULATION (絕緣阻抗測試)

五.儀器操作(以7440為參考)

1.WITHSTANDING VOLTAGE TESTER 選擇項目選按AC-W鍵：

W-VOLT 1500V （按數字鍵輸入）

HIIMIT 13MA (按數字鍵輸入)

LO-LIMIT 8.0MA (按數字鍵輸入)

RAMP TIME 1S (按數字鍵輸入)

DWEU TIME 3S (按數字鍵輸入)

FREQVENCY 60HZ (已設定好)

ARC SENSE 8 (已設定好)

ARC FAIL ON (按ENTER鍵切換ON/OFF)

SCANNER SETCH (未用)

OFFSET (未設定)

CONNECT ON或OFF (按ENTER鍵切換ON/OFF)

按“V”鍵上下翻頁按‘ENTER’自動存儲,AC或DC請按ENTER鍵切換,設定一樣欲

知詳細設定,請參考使用者手冊.

AC LOW RESISTANCE TESTER

先按：GROUNDING后

CURRENT 25A (已設定好)

VOLTAGE 8V (已設定好)

HI-LIMIT 0.1MΩ (按數字鍵輸入)

20-LIMIT 0MΩ (按數字鍵輸入)

PWELL TIME 2S (按數字鍵輸入)

FREQUENCY 60HZ或50HZ (按數字鍵輸入)

SCANNER CH (未用)

OFFSET (未設定)

CONNCT ON或OFF (按ENTER鍵切換)

按‘ENTER’鍵結束

六.儀器檢查

1.HI-POT的檢查

治具原理:用一個固定電阻箱檢查HI-POT的輸出電壓,根據線路原理:U=IR,計算出治具檢

測時之漏電流值,並作DAILY CHECK之比較依據.

按MEMORY鍵,輸入治具上標明之電流參數,接好FAIL SAMPLE按TEST,應聽到蜂嗚器的

叫聲,且電流值應大于FAIL SAMPLE上標明之漏電流值.

七.測試判定

測試不良分以下幾種:

BREAKDOWN OVER FLOW+ARC:輸出過載, 電弧信號

SHORT OVER FLOW :輸出過載

HI LIMIT FAIL OVER HI LIMIT SETTING : 電流過大失敗

ARC FAIL >10VS PEAK CURRENT DETECTING

LO LIMIT FAIL UNDER LO LIMIT SETTING : 電流過小失敗

OPEN CHANGE LO : 直流電壓緩升充電電流

OFL OVER FLOW :輸出過載

http://www.google.com.tw/url?sa=t&rct=j&q=&esrc=s&frm=1&source=web&cd=7&ved=0CFkQFjAG&url=http%3A%2F%2Fwww.dianyuan.com%2Fblog%2Fu%2F2009-03%2F306109_1238299228.doc&ei=MxFwUbb4KIjdkAWPwoCYAw&usg=AFQjCNEvCdoW0dbfGcB50OPmZfkORoG_bg&sig2=7xgUgUrNBLnL3hZBavu1jw

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